Keysight расширяет линейку тестирования двойных импульсов для широкозонных чипов

Компания KEYS представила новое решение для тестирования полупроводниковых чипов с широкой запрещенной зоной, не требующее пайки. Эта разработка позволяет значительно уменьшить паразитные явления и обеспечивает более быстрое и точное характеристирование полупроводников.

Кроме того, уникальная конструкция позволяет сократить время на подготовку тестирования и обеспечить более стабильные результаты, что критически важно в условиях современного высокотехнологичного производства. Технология широкозонных полупроводников, таких как карбид кремния или нитрид галлия, становится всё более востребованной для создания мощных энергоэффективных устройств.